紅外氣體分析儀測(cè)量誤差來源有哪些?
2017-08-01
紅外氣體分析儀是基于被測(cè)介質(zhì)對(duì)紅外光有選擇性吸收而建立的一種分析方法,屬于分子吸收光譜分析法。使紅外線通過裝在一定長(zhǎng)度容器內(nèi)的被測(cè)氣體,然后通過測(cè)定通過氣體后的紅外線輻射強(qiáng)度來測(cè)量被測(cè)氣體濃度。
紅外氣體分析儀在測(cè)量過程中會(huì)遇到不同的環(huán)境,從而對(duì)結(jié)果造成一定的誤差,那么常見的誤差來源有哪些呢?
1、光路不平衡干擾:
一臺(tái)紅外線氣體分析儀預(yù)熱后通入氮?dú)鈺r(shí),輸出很大,這是由于切光片相位不平衡及光路不平衡引起,因此只要調(diào)整相位調(diào)節(jié)選鈕使輸出達(dá)到小,再調(diào)整光路平衡選鈕使輸出zui小即可。然后同零點(diǎn)氣和量程氣,反復(fù)校準(zhǔn)儀表零點(diǎn)和量程。
2、水分干擾:
零點(diǎn)氣中若有水分,紅外線氣體分析器標(biāo)定后,會(huì)引起負(fù)誤差,在近紅外區(qū)域,水有連續(xù)的特征吸收波譜,若標(biāo)定用的零點(diǎn)氣中含有水分時(shí),將造成儀器的零位的負(fù)偏,標(biāo)定后儀器示值必然比實(shí)際值偏低,從而起負(fù)誤差。
3、溫度變化的干擾:
紅外線氣體分析儀檢測(cè)過程需要在恒定的溫度下進(jìn)行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅外光源的穩(wěn)定,影響紅外輻射的強(qiáng)度,影響測(cè)量氣室連續(xù)流動(dòng)的氣樣密度,還將直接影響檢測(cè)器的正常工作。如果溫度大大超過正常狀態(tài),檢測(cè)器的輸出阻抗下降,導(dǎo)致儀器不能正常工作,甚至損壞檢測(cè)器。紅外分析儀內(nèi)部一般有溫控裝置及超溫保護(hù)電路,即使如此,有的儀器示值特別是微量分析儀器,亦可觀察出環(huán)境溫度變化對(duì)檢測(cè)的影響,在夏季環(huán)境溫度較高時(shí)尤為明顯。在這種情況下,需改變環(huán)境溫度,設(shè)置空調(diào)是一種解決辦法。
4、大氣壓力波動(dòng)的干擾:
大氣壓力即使在同一個(gè)地區(qū)、同一天內(nèi)也是有變化的。若天氣驟變時(shí),變化的幅度較大。大氣壓力的這種變化,對(duì)氣樣放空流速有直接影響。經(jīng)測(cè)量氣室后直接放空的氣樣,會(huì)隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發(fā)生變化,從而造成附加誤差。
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